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冷熱沖擊試驗機
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冷熱沖擊試驗機

 
類型: 測量儀器
材質(zhì): 金屬
型號: SEIMIT2110
品牌: SEIMIT
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冷熱沖擊試驗機說明書
溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設(shè)置短路保護,確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用國際流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品,使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;
冷熱沖擊試驗機設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗


主要技術(shù)指標(biāo):


型號H 型S型L 型
SET-70H-WSET-70S-A/WSET-100S-WSET-200S-WSET-70L-ASET-100L-A
標(biāo)稱內(nèi)容積(升)707010020070100
試驗方式氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
性 能高溫室預(yù)熱上限溫度+200℃
升溫速率常溫→+200℃≤15min
低溫室預(yù)冷下限溫度﹣77℃﹣75℃﹣75℃
降溫速率常溫→-75℃≤55min常溫→-75℃≤45min常溫→-75℃≤55min常溫→-75℃≤50min常溫→-75℃≤50min常溫→-75℃≤75min
試驗室溫度偏差±2℃(≤+150℃時),±3℃(>+150℃時)
溫度范圍(+60~+200)℃~(-70~0)℃(+60~+200)℃~(-65~0)℃
溫度恢復(fù)時間5min以內(nèi)10min以內(nèi)5min以內(nèi)
試樣重量3.5kg5kg5kg20kg2.5kg2.5kg
內(nèi)部尺寸
(mm)
W410410650650410650
H460460460460460460
D370370370670370370
外部尺寸
(不含凸起部分)
(mm)
W131013101550155013101550
H195019501950195019501950
D183015301530183015301530


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